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最後更新日期   
2017-12-04

粉末X-光繞射儀(D2 phaser system)

 

粉末X-光繞射儀(D2 phaser system)

壹、儀器設備說明 (規格)

廠牌Bruker

 

X-光產生器

(一)X光管(X-RAY Tube):

(1)至少為2.2KW 銅靶,長細型,可與其它廠家光管互換

(2)管身為耐熱陶瓷,需同時具備一個線聚焦及一個點聚焦

(二)高壓電源供應器(High Voltage Generation system):

(1)最大輸出功率:300W

(2)最大輸出電壓:30 kV

(3)最大輸出電流:10 mA

(4)不需使用外部循環水系統冷卻

 

測角儀系統(Goniometer)

(一)θ-θ垂直作動型式,即入射角度及繞射角度可分別獨立動作

(二)樣品需為水平放置避免掉落

(三)2θ作動範圍: -3° ~ 160°或更大

(四)旋轉樣品載台速度:1°/min ~ 80°/min 或更大

(五)全範圍掃描2θ 之精準度:±0.02° 或更好

(六)以Corundum為樣品其 2θ之解析度(半高寬):0.05° 或更小

 

光學元件

(一)入射光源:固定抽換式狹縫裝置

(二)特殊設計可調位置阻光刀, 提高高角及低角度範圍之信號雜訊比

 

化合物半導體偵測器

(一)  不須配有繞射側單光器即可解決含鐵鈷鎳等元素所造成之螢光效應的高,背景值,訊號偵測速度需比點偵測器快 ≧ 100 倍以上。

(二)最大偵搜角度:5.5°。

(三)偵測區域有效面積:14.4 x 16mm2。

(四)2θ 解析度 ≦ 0.037°。

(五)最高偵測強度 ≧ 100M cps。

(六)偵測器之動態範圍 > 7x106。

(七)偵測器之背景值 < 0.1 cps。

(八)偵測器之strips 或 channel 數目:192 個。

(九)可應用波長範圍:鉻(Cr) ~ 銅(Cu) 。

(十)偵測器之靈敏度 > 98%。

 

貳、服務項目:

粉末繞射 (X-Ray Diffraction)     固體、薄膜、粉末

 

參、取樣、使用應注意事項:

1. 樣品量測表面盡量平坦。

2. WAXS量測為穿透式,樣品必須能被X-ray穿透。

3. 適用樣品型態,粉末與固體。

 

肆、使用時段與預約:

1.開放星期一至星期五 (周一~周五中午12:00~下午2:00儀器不開放。)

2.使用前一星期需至儀設網站儀器設備系統網站預約

伍、訓練課程規定辦法

 合格操作員需經管理者講解過實際儀器操作訓練,才能自行操作。

 

陸、收費辦法及標準(含訓練課程):(註1.)

 

研究生服務(校內)

每時段兩小時800

合格操作者(校內)

每時段兩小時800元

校內學術

無單位配合款

有單位配合款

管理單位

其他

 

 

校外學術

每時段兩小時1500元

業界

每時段兩小時1500元

柒、儀器聯絡與管理人:  

第一管理者:張玉孚(研究生) 65357 ext.25 a0925080897@gmail.com
 
第二管理者: 李旻育(研究生) 65357 ext.25 sty82925@gmail.com

許桂芳(副教授) 65346

 

捌、其他注意事項:

預約者前幾次操作儀器時需要管理者在旁教學說明或陪同,請勾選: 操作.訓練.諮詢,等管理者認可.允許自行操作之後方可勾選:自測,請同時於備註欄留下連絡電話,以利後續樣品準備之聯繫,若未按照規定將取消預約資格,謝謝。

「 第一次預約者,即使有認可之使用者陪同操作,也請麻煩勾選  操作.訓練.諮詢欄位  」

 

(註1.)

(1).收費辦法需含校內學術、校外學術及業界收費標準。若無訂定將採用default值(校外+50%、業界+100%)。

(註2.)